EPK MINITEST740

EPK MINITEST740

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀

EPK涂層測厚儀創(chuàng)新的SIDSP(探頭中的數(shù)字信號處理)技術提高了測量精度。

EPK涂層測厚儀測量范圍為15毫米，F(xiàn)、N或FN探頭可更換為內部或外部探頭。

FN探頭可自動識別F(鐵磁)或N(非磁)基體，操作簡單，*。

EPK涂層測厚儀SIDSP技術-智能數(shù)字涂層厚度測量探頭技術

模擬信號處理的時代已經(jīng)過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢。

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀使用的SIDSP是什么？

 MINITEST740 SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)開發(fā)的，世界涂層厚度測量探頭技術。EPK這項技術為涂層厚度測量領域的創(chuàng)新奠定了新的標準。

 MINITEST740 SIDSP是探頭內部的數(shù)字信號處理。這項技術使探頭能夠在測量時將信號*處理成數(shù)字形式。SIDSP探頭*按照world 技術制造。

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀SIDSP的工作原理？

與傳統(tǒng)技術不同的是，SIDSP在探頭頂端產(chǎn)生并控制激勵信號，返回的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉換處理，為您帶來準確的涂層厚度值。這種數(shù)字處理技術也應用于現(xiàn)代通信技術(手機網(wǎng)絡)，如數(shù)字濾波、基帶轉換、平均值、隨機分析等等。與模擬信號處理相比，這種技術可以獲得更好的信號質量和精確度。厚度值通過探針電纜以數(shù)字方式傳輸?shù)斤@示設備。

與普通模擬探頭相比，SIDSP探頭具有決定性的優(yōu)勢，樹立了涂層厚度測量的新標準。