菲希爾元素定量測試的探測器介紹

XRF分析方法的最后一個關(guān)鍵組成部分是探測器，它接收熒光輻射并以高精度進行測量。來自探測器的信息被傳遞到分析軟件并進行相應(yīng)處理。探測器的類型決定了您可以使用XRF光譜儀解決哪些測量任務(wù)。
我們提供市場上探測器組合。這意味著只有在Fischer，您才能找到適合您的測量任務(wù)并以最佳方式解決它的探測器。有三種類型各具特定優(yōu)勢的探測器。

在測量技術(shù)專家的組合中，久經(jīng)考驗的比例計數(shù)器（PC）管是*的。它提供了一個巨大的探測器區(qū)域，帶有一個略微彎曲的窗口。這個特點使它在大量熒光信號到達探測器時，能夠?qū)崿F(xiàn)高計數(shù)率。它可以在距離樣品20–80 mm處進行測量。PC管通常用于1–30µm范圍內(nèi)的涂層厚度測量和小測量點。另一個優(yōu)點是，PC管對樣品與探測器對準的精度和測量距離設(shè)置的敏感性比較低。PC管配合Fischer開發(fā)的漂移補償為標準，提供了穩(wěn)定性。

對于要求更高的鍍層厚度測量，需要更高的能量分辨率。在這種情況下，使用硅PIN二極管的XRF分析儀是一個很好的選擇。這種半導體探測器也可以成功地用于簡單的材料分析。因此，硅PIN探測器是我們探測器產(chǎn)品組中間環(huán)節(jié)。

高質(zhì)量XRF光譜儀使用硅漂移檢測器（SDD）。這種探測器是強大的。它具有特別好的能量分辨率和特別高的檢測靈敏度。因此，在測試材料的元素組成時，SDD提供了所有探測器中性能。樣品中僅以極低濃度存在的元素的熒光信號也能很容易檢測到。此外，配備SDD的儀器可精確確定納米范圍內(nèi)的鍍層厚度，并允許對復雜的多層結(jié)構(gòu)進行可靠評估。